自動膜厚マッピングシステム F50
最終更新日:2018/09/15
このページを印刷膜厚マッピングをスピーディーに測定
【F50】は、自動かつ高速で膜厚の測定を行い、膜厚ムラを視覚的に表現できるシステム。測定したい箇所を座標で簡単に指示でき、データ管理も容易。膜厚マッピングをスピーディーに行える。操作は極めて簡単で、瞬時に膜厚を測定することが可能。3nm~250μmの広範囲な膜厚測定に対応。
一緒に閲覧されている製品
その他製品一覧
炭素硫黄同時分析装置 CS744シ…
酸素モニタ OXYMAN Plus
応力制御型レオメータ AR-G2
プローブ型インライン粒度分布…
灰溶融性測定装置 AF700型
連続血圧・血行動態測定装置 Fi…
粉体流動性分析装置 パウダーレ…
カロリーメータ AC500型
ACCURA Mini α(アキュラミニア…
ナノ粒子解析システム
上皿型重量はかり S-box
マルチフェーズ炭素水素分析装…
微小領域膜厚測定装置 F40
高温観察装置 SMT Scope SKシリ…
ゼータ電位・粒径測定システム …
X線CTシステム TXS450/TXS320-…
拡散/非拡散水素分析装置 DH60…
比抵抗計 873PHOENIX
有機元素分析装置 CHN828シリーズ