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フライングプローブテスタ APT-1340J

タカヤ(株)

最終更新日:2022/10/18

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  • フライングプローブテスタ APT-1340J
業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能、評価テストにも対応
【APT-1340J】は、業界トップクラスの超高速インサーキットテストが可能な基板検査装置。従来モデルよりプラットフォームを一新し、プローブ移動速度を最大50%アップさせるとともに、コンタクト位置精度を大幅に向上。フレキシビリティに富んだ新しい高精度・広範囲測定システムや、画期的な4ヘッド6フライングプローブ機構によって、基板品種・生産量を問わず、実装工程における検査コストの削減・品質向上に大きな効力を発揮する。岡山本社のデモルームにて、ユーザーが基板を持込んでの評価テストも行っている。検査用プログラム作成、実基板を用いての検査、評価結果のまとめまで一連の流れでテストが可能。

製品カタログ・資料

APT-1340J,1400F-SLカタログ
APT-1340J,1400F-SLカタログ

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:2.49MB電子機器を正しく機能させるためには、機器内にある電子回路基板が正常に動作する必要があります。 電子回路基板は、電子部品がプリント配線板(基板)に正しく実装され、電源が供給されることにより動作が可能となります。 この、電子部品が実装された状態の電子回路基板に、専用のプロープを接触させ、 微少な電気信号を与えて検査することを インサーキットテスト(ICT)、検査を行う装置をインサーキットテスタと呼びます。 基板自体に余計な負荷を与えることなく、「電子部品と基板との接続信頼性」 「実装された個々の電子部品(抵抗器・コンデンサ等)の定数」「ダイオード極性」などを検査します。 MDA(Manufacturing Defect Analyzer:製造不良解析装置)とも呼ばれます。 主な検査内容 ● ハンダのショート・オープン ● パターン断線 ● 部品の欠品 ● 部品の定数間違い ● 極性のある部品の逆挿入 ● IC・コネクタのリード浮き ● デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認 ● その他、簡易ファンクション検査

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