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受託評価 走査型電子顕微鏡観察

(株)魁半導体

最終更新日:2018/10/31

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  • 受託評価 走査型電子顕微鏡観察
高分子材料、金属、セラミックスなどの固体試料を評価
魁半導体では、走査型電子顕微鏡観察による受託評価を行っている。試料表面に電子線を照射することで、試料表面からの反射電子を検出し、試料表面の形状を観察。試料台作成・画像撮影・画像ファイル(jpeg)変換を行い、結果を送付する。最大試料サイズ:径15mm×高さ10mm以下、対象試料:高分子材料・金属・セラミックスなどの固体試料(他は要相談)。

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企業基本情報

社名:
(株)魁半導体
住所:
〒 600-8897
京都市下京区西七条御前田町50
Web:
http://www.sakigakes.co.jp/

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