通信波長帯対応 光学トランシーバー試験用波長計
最終更新日:2025/10/01
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±0.3pmの高精度測定、自動較正機能を標準搭載し長期間安定した測定を実現
本製品は、高精度・高速・低コストを実現する光トランシーバー試験用波長計。実績ある干渉計ベースの技術を採用し、トランシーバーの波長を最大±0.3pmの精度で正確に測定する。高速測定で試験効率を高め、生産スループットを向上。通信帯を幅広くカバーしつつ、高速性とコストパフォーマンスを両立しており、WDM伝送システム、データセンター、3Dセンシング、LIDAR用途に最適。
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