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スリットスキャン式レーザビームプロファイラ NanoScan2s(ナノスキャン2s)

(株)オフィールジャパン レーザー計測機器グループ

最終更新日:2024/03/27

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  • スリットスキャン式レーザビームプロファイラ NanoScan2s(ナノスキャン2s)
UV〜FIRまでの広波長範囲レンジに対応
【NanoScan2s(ナノスキャン2s)】は、NISTトレーサブルのレーザビームプロファイラで、CWレーザおよびパルスレーザのプロファイルに対応。USB2インターフェースを装備し、強化されたデジタルコントローラにより精度が改善され、計測もより安定し、ビーム径やビーム位置は数百nmの精度(3σ)で測定できる。また、スキャンスピードと「ピーク・コネクト」アルゴリズムは、ソフトウェアで制御でき、全てのディテクタで数kHzかそれ以上のパルスレーザやパルス幅変調レーザの計測が可能。ディテクタの種類はシリコン/ゲルマニウム/パイロエレクトリックの3種類から選択でき、測定波長範囲は190nm〜20μmまでとなり広帯域で使用できる。

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企業基本情報

社名:
(株)オフィールジャパン レーザー計測機器グループ
住所:
〒 102-0073
千代田区九段北4-1-28 九段ファーストプレイス6F
Web:
https://www.ophiropt.com/ja/