製品ナビは、工業製品からエレクトロニクス、IT製品まで、探している製品が見つかります

蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMI

(株)フィッシャー・インストルメンツ

最終更新日:2022/07/13

このページを印刷
  • 蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMI
ウェハーハンドラーを搭載した微小構造のウェハー測定用
【XDV-µ SEMI】は、微小構造のウェハー測定に特別設計された完全自動化の蛍光X線測定システム。FOUPやSEMI規格のウェハー格納用ポッドのロードポートが利用可能なため、ウェハーの出し入れや測定が完全自動で実行できる。お問い合わせはこちらへ。

製品カタログ・資料

蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMI
蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMI

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:1.49MB【XDV -µ SEMI】は、微小構造のウェハー測定に特別設計された完全自動化の蛍光X線測定システム。FOUPやSEMI規格のウェハー格納用ポッドのロードポートが利用可能なため、ウェハーの出し入れや測定が完全自動で実行できる。

会社情報

(株)フィッシャー・インストルメンツ

Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております

(株)フィッシャー・インストルメンツ
〒 340-0012  草加市神明1-9-16

https://www.helmutfischer.jp/
詳細はこちら

蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMIのお問い合わせ

お問い合わせはこちら
企業ロゴ

ランキング

ピンホールチェッカー イオニック20
ピンホールチェッカー イオニック20アテック(株)
5軸タッチトリガーシステム PH20
5軸タッチトリガーシステム PH20レニショー株式会社
オープントップテストソケット GUT30Kシリーズ
オープントップテストソケット GUT30Kシリーズ日本コネクト工業(株)
日本CAD社製回線遅延シミュレータ Ethdelay2 PRO ED2PRO-01
日本CAD社製回線遅延シミュレータ Ethdelay2 PRO ED2…コアスタッフ株式会社
24GHzレーダーデモキット
24GHzレーダーデモキットインフィニオン テクノロジーズ ジャパン(株)
RIEGL社製小型UAV搭載型レーザースキャニングシステム miniVUX-SYS
RIEGL社製小型UAV搭載型レーザースキャニングシステ…リーグルジャパン(株)
LED対応UVラベル
LED対応UVラベル日油技研工業(株)
アース導通試験器 TOS6210
アース導通試験器 TOS6210菊水電子工業(株)
HDD/SSD障害解析・選定評価
HDD/SSD障害解析・選定評価ソルナック(株)
音響カメラ SoundGraphy
音響カメラ SoundGraphy豊田通商システムズ株式会社

企業基本情報

社名:
(株)フィッシャー・インストルメンツ
住所:
〒 340-0012
草加市神明1-9-16
Web:
https://www.helmutfischer.jp/

おすすめ情報

  • <技術資料 膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

    本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。

  • <技術資料 膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと>

    【膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。

  • <非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

    【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
    ■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定