企業基本情報
蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMI
最終更新日:2022/07/13
このページを印刷ウェハーハンドラーを搭載した微小構造のウェハー測定用
【XDV-µ SEMI】は、微小構造のウェハー測定に特別設計された完全自動化の蛍光X線測定システム。FOUPやSEMI規格のウェハー格納用ポッドのロードポートが利用可能なため、ウェハーの出し入れや測定が完全自動で実行できる。お問い合わせはこちらへ。
一緒に閲覧されている製品
製品カタログ・資料
- 蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMI
ファイル形式:pdf ファイルサイズ:1.49MB【XDV -µ SEMI】は、微小構造のウェハー測定に特別設計された完全自動化の蛍光X線測定システム。FOUPやSEMI規格のウェハー格納用ポッドのロードポートが利用可能なため、ウェハーの出し入れや測定が完全自動で実行できる。
その他製品一覧

精密型プッシュプルテスター MP…

ナゲット検査器 NT-4102

高速ボトル印刷検査システム TS…

デジタル動揺計 W0051/W0031A

インライン計測システム

微小寸法計測装置

分離型プッシュプルテスター MP…

微小異物検査装置

デジタル渦流テスタ DEFECTOMET…

赤外線ループスキャナ Rota-Son…

TOC連続測定システム ACCURAシ…

Wi-Spyスペクトラム解析ソフト…

ヘリウムリークディテクタ M-22…

自動試験・評価システム ペリテ…

ホルムアルデヒド除去塗料 環境…

ロードセル変換器 A-160L

ボルトジョイント分析装置 SCHA…

ポータブルトルク計測器 SCHATZ…

味認識装置 TS-5000Z
































