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蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMI
最終更新日:2022/07/13
このページを印刷ウェハーハンドラーを搭載した微小構造のウェハー測定用
【XDV-µ SEMI】は、微小構造のウェハー測定に特別設計された完全自動化の蛍光X線測定システム。FOUPやSEMI規格のウェハー格納用ポッドのロードポートが利用可能なため、ウェハーの出し入れや測定が完全自動で実行できる。お問い合わせはこちらへ。
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