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ディスクチッピング検査装置 DSiS-2015

最終更新日:2015/10/06

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チッピング、汚れなどを高速・高精度に検出

【DSiS-2015】は、CCDカメラで取り込んだ画像解析により、ガラス基板／メディアの表面／エッジ部のチッピング、汚れなどを高速・高精度に検出する量産ライン検査装置。合否判定に基づいたディスクの自動振り分け、検査結果は上位システムに通信して管理することが可能。

試験・検査装置│表面形状検査装置│

　　　　　　　　

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