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アメテック(株)テーラーホブソン事業部
住所：
〒 105-0012
港区芝大門1-1-30　芝NBFタワー3F
Web：
http://www.taylor-hobson.jp/

高解像度測定機 タリサーフ iシリーズ

アメテック(株)テーラーホブソン事業部

最終更新日:2015/01/16

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  • 高解像度測定機 タリサーフ iシリーズ
表面性状／輪郭形状／3D同時測定用
【タリサーフ iシリーズ】は、表面性状／輪郭形状(Contour)／3D同時測定用の高解像度測定機。低ノイズ駆動軸と高解像度ゲージにより、多種多様なアプリケーションに対応する一貫した測定性能と柔軟に選択できるゲージレンジを実現した。18ビットのゲージで1mm、2mm、5mmのゲージレンジを選択することができ、表面性状や形状解析用の強力なソフトウェアも付属。トレーサビリティのとれた標準機と独自のアルゴリズムを使用し、測定結果から測定機に起因する誤差を測定結果から効率的に排除している。
    　　　　　　　　

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