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スパウト検査装置

(株)デクシス

最終更新日:2025/12/17

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  • スパウト検査装置
リブ・段差影の影響を受けず黒点異物を検出、リブ全面検査可能な機器構成
本装置は、オリジナルアルゴリズム(マルチベクトルサーチ)により、高精度に異物検出が可能なスパウト検査装置。 スパウトのネジ部・口部・側面部の検査が可能。検査部位：ネジ部・口部・側面部。主な仕様は次の通り。対象ワークサイズ(単位mm)：φ10～60(他サイズにも対応)、処理能力：MAX100本／分。
    　　　　　　　　

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社名：
(株)デクシス
住所：
〒 273-0005
船橋市本町2-1-34　船橋スカイビル
Web：
https://decsys.co.jp/