超小型スルーホール用ケルビン電極 VIA KELVIN test probe

最終更新日:2014/02/01

基板のスルーホールを短時間でケルビン電極に変換

【VIA KELVIN test probe】は、低コスト、短時間で基板のスルーホールを四端子法測定用電極に変換する製品。同社の「新開発探針」を目的スルーホールへ挿入するだけで使用可能。従来の様に高価格・高精度な2極探針を高価格・高精度な装置で位置決め圧接保持させる必要がなく、位置決めはスルーホールへ視認挿入することで完了し、圧接位置保持は探針が自立的に維持する。構造の原理は、スルーホール開口部から2本の導電体を挿入し、スルーホール内壁の一定接触点までの通過点を完全に保持絶縁することによって得られる。スルーホール内径(1-0.5-0.3)、高周波(GHz帯)、耐熱(130℃、150℃)可能。特許出願中。