メモリ・テスト・システム T5511

【T5511】は、業界最高クラスの試験速度8Gbpsと、タイミング精度±40psに対応したメモリ・テスト・システム。全テストピンが8Gbpsに対応しているため、高速で試験する代わりに同時測定個数が減少するという制限がない。また、DDR4-SDRAMとGDDR5-SDRAMの測定に必要となったタイミング・トレーニング機能を、ハードウェアで実現し、従来の ソフトウェア対応では達成できなかったスループット向上を実現した。さらにCRCコード発生機能もハードウェアで実現したことにより、プログラム作成が容易となった。開発から量産までを1台でカバーすることができるため、設備投資を最小限に抑えることができる。