ディスプレイ・ドライバIC向けテスト・システム T6391

【T6391】は、スマートフォンやテレビなど、さまざまな電気製品に使用される次世代のディスプレイ・ドライバIC（以下DDI）向けテスト・システム。多ピン化、高速インタフェース化、多機能化といった、次世代DDIの技術トレンドに対応すべく、DDIのあらゆる機能のテストをカバー。高スループットのテストを実現する高速伝送路や、複数のチップを同時にテストできる512のI／Oチャンネルを備えている。最大3,584ピンのLCDチャンネルは、フルHDやWXGA、スマートフォン向けのHD720といった高画質の映像規格向けDDIのテストにも十分対応する。またI／Oピンは最大1.6Gbpsの周波数で動作し、モバイル機器の標準インタフェース規格であるMIPI向けDDIをテストすることが可能。モジュールを追加することでな最大6.5Gbpsまで高速化できる。