メモリ・テスト・システム T5831

【T5831】は、モバイル機器で使用される次世代NANDフラッシュメモリやNANDベースMCP向けのテストシステム。「Tester-Per-Site」構造と業界トップクラスの電流を供給するデバイス電源により、プログラムと消去動作を高速化して高いスループットを実現するほか、誤り訂正符号(ECC)のオンザフライ解析がポスト処理に伴う余分なテストタイムを短縮。eMMCなどのフラッシュメモリ搭載デバイスやONFi／Toggleの両インターフェースに加え、MCPメモリ、DRAMのコンカレント・テストにも対応する。複数のデバイスを同時にテストする高い生産性でコストの低減を実現するとともに、投資効率を最大化するモジュラー設計が多彩なテストシステムをサポート。