メモリ・テスト・システム T5833

【T5833】は、モバイルDRAMとNANDフラッシュ・メモリ双方の試験に対応できるメモリ・テスト・システム。ウエハ試験時最大2048個、パッケージ試験時最大512個と多くのデバイスを同時にテストすることで、テスト・コストを低減。また、複数のCPUを測定対象デバイスの試験工程に最適になるように組み合わせて制御する「フレキシブル・サイトCPU・アーキテクチャ」を採用し、テスト時間の短縮とスループット向上に大きく貢献する。