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次世代メモリIC向けテスト・ハンドラ M6245

(株)アドバンテスト

最終更新日:2015/01/27

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  • 次世代メモリIC向けテスト・ハンドラ M6245
優れたデバイスコンタクト位置精度と温度制御能力を兼備
【M6245】は、Visual Alignment機能を搭載しており、ボールピッチ0.3mm以下のファインピッチデバイスを高スループットでハンドリングする装置。位置合わせをキャリブレーションにより自動で行うため、ハンドラ使用時のセットアップ時間が短縮できる。また、独自の「Dual-Fluid」技術を核とする温度制御能力は、被測定デバイスの温度を±1℃の精度でコントロールし、-20~+100℃の広範囲において高精度な温度管理が行える。このほかFail判定した被測定デバイスを自動で再テストする機能や、稼働状況をリアルタイムでモニタリングする機能も装備。

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社名:
(株)アドバンテスト
住所:
〒 100-0005
千代田区丸の内1-6-2 新丸の内センタービルディング
Web:
http://www.advantest.co.jp/