メモリ・テスト・システム T5811

【T5811】は、SDRAMメモリのコア試験に特化したメモリ・テスト・システム。独自のBOST機構であるETHテクノロジーを採用し、テスト機能のほとんどをDUT直近のマザーボード内に実装することにより、テスタ本体の価格を抑えることに成功。部品交換による拡張性に加え、従来比10分の1の電力量とフロア面積を3分の1に削減し、COT削減を実現。また、メモリ・テスタ用OS 「Future Suite」の搭載により、BOST構造を採用しているにも関わらず、同社従来製品「T5xxx」シリーズの膨大なプログラム資産を活用することができる。測定対象デバイス：LPDDR2／3-SDRAM、DDR3-SDRAMとDDR4-SDRAMのコア部、 同時測定個数：512個(x8 I／O)、最大試験速度：600MHz／1.2Gbps。