粒子径分布・ゼータ電位・分子量測定装置 Nanotrac Waveシリーズ
最終更新日:2016/02/04
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周波数解析／ヘテロダイン法を採用
【Nanotrac Waveシリーズ】は、光学プローブによる後方散乱法測定を用いた粒子径分布・ゼータ電位・分子量測定装置。内部プローブ式／外部プローブ式をラインアップ。粒子径分布：0.8～6,500nm、ゼータ電位：－200～＋200mV、分子量：300Da～20MDaと低濃度から高濃度まで対応し、安定したデータを得ることができる。微弱信号の検出にはヘテロダイン方式を採用。周波数スペクトルは独自の周波数解析アルゴリズムで解析し、粒子の大きさに依存する散乱効率を考慮して体積基準の粒子径分布を算出する。光源は半導体レーザ(波長：780nm、最大出力：5mW)を採用、測定時間は10～1,800秒(粒径により異なる)。PCとの通信にはUSBを使用。
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- 粒子径分布・ゼータ電位・分子量測定装置 Nanotrac Waveシリーズ
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