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半導体検査装置

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スプリングプローブ
三友電子工業株式会社
本製品は、さまざまな電化製品・電気／電子機器で使用される半導体デバイス(IC・電子…
半導体電気特性評価テラヘルツ分光装置・テラヘルツエリ…
西華デジタルイメージ株式会社
本装置は、複素誘電率(複素屈折率)の周波数依存性を計測できるテラヘルツ分光装置・…
8インチハイパワー用オートプローバー TS2000-HP
MPI Corporation
【TS2000-HP】は、高電圧、大電流アプリケーション用途向けに開発されたオートプロー…
半導体テスタ V2048
株式会社テストラム
【V2048】は、最大4つの同時テストを行える半導体テスタ。リーズナブルな価格設定に…
微小電流測定用セミオートプローバ AP-80
(株)日本マイクロニクス
【AP-80】は、8インチ微小電流測定用のセミオートプローバ。ガード電位技術を活用し…
非接触(渦電流法)シート抵抗／抵抗率多点測定器 NC-80MAP
ナプソン(株)
【NC-80MAP】は、複数タイプの非接触プローブで広範囲レンジに対応する抵抗測定器。…
デジタルIC計測システム EVA100 Digital Solution
(株)アドバンテスト
【EVA100 Digital Solution】は、デジタルICのテストに必要な機能を実装した、超小型…
μTAS測定用ソケットユニット RYURO
(株)エス・イー・アール
【RYURO】は、メディカルマイクロデバイスおよびバイオMEMSの評価・検証・解析を行う…
高精度・高信頼性シールド機構付き 8インチオートプロー…
MPI Corporation
【TS2000-SE】は、デバイスモデリング、RFおよびミリ波測定、WLR、故障解析などオン…
結晶欠陥検出装置ラマン測定装置・歪シリコン測定装置
西華デジタルイメージ株式会社
西華デジタルイメージでは、低周波領域、深赤外領域の測定に適した高性能機なラマン…
LED検査分類テスタ OLC-300W
(株)オーテックエレクトロニクス
【OLC-300W】は、OLC-4の高精度／多機能性をそのまま継承した、大電流・高電圧対応の…
パワーデバイス用オートプローバ PW-8000
(株)日本マイクロニクス
【PW-8000】は、最大8インチウェハ対応のパワーデバイス向けフルオートプローバ。独…
4探針法全自動測定ソーター WS-8800
ナプソン(株)
【WS-8800】は、シリコンウェハの厚さ測定、PN判定、温度測定に対応する4探針法(接触…
アナログIC／ミクスドシグナルIC／センサIC用計測システム…
(株)アドバンテスト
【EVA100 量産対応モデル】は、小ピンアナログ、デジタル／アナログ回路の両方を搭載…
シールド機構付き300mmオートプローバー TS3000-SE
MPI Corporation
【TS3000-SE】は、デバイスモデリング、RFおよびミリ波測定、WLR、故障解析などオン…
結晶欠陥検出装置フォトルミネッセンスイメージング装置
西華デジタルイメージ株式会社
【フォトルミネッセンスイメージング装置】は、フォトルミネッセンス法を応用し、高…
LED検査分類テスタ OLC-110V／220V
(株)オーテックエレクトロニクス
【OLC-110V／220V】は、OLC-4の高精度／多機能性をそのまま引継いだ、大電流・高電圧…
アナログIC／ミクスド・シグナルIC向け計測システム EVA100
(株)アドバンテスト
【EVA100】は、少数ピンのアナログICや、デジタル回路とアナログ回路の両方を搭載し…
IGBT＆MOSFET用動特性・静特性テストシステム TRdsシリーズ
ナプソン(株)
【TRdsシリーズ】は、シングルチップ・パワーモジュール・IPMのサンプルタイプに対応…
300mm フルオートオプション付きプローバー TS3500-SE
MPI Corporation
【TS3500-SE】は、デバイスモデリング、RFおよびミリ波測定、WLR、故障解析などオン…

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