アナログIC/ミクスド・シグナルIC向け計測システム EVA100
最終更新日:2015/11/24
このページを印刷優れた計測機能と直感的な操作性を提供
【EVA100】は、少数ピンのアナログICや、デジタル回路とアナログ回路の両方を搭載したミクスド・シグナルICテスト向け計測システム。アナログ電圧・電流源、パターン・ジェネレータ、オシロスコープなど、デバイス評価時に必要な機能をコンパクトなボディ1台に搭載し、従来の個々の計測器間の煩雑なケーブリングや制御操作を不要とした。これらの機能は高いタイミング精度で同時制御が可能なため、高い測定再現性を実現する。さらに、プログラミング言語を不要とした直感的な操作環境は、計測、評価作業の効率を飛躍的に向上させ、設計評価から量産・選別工程などあらゆるシーンを強力にサポートする。これらのことから、エンジニアに求められていた高いテスト・プログラミング技術と機器の複雑な操作技術の負担を軽減させ、ユーザーが開発中のデバイスの早期市場投入に貢献する。対象デバイス:汎用アナログIC、ミクスド・シグナルIC、センサIC。
一緒に閲覧されている製品
その他製品一覧

IGBT&MOSFET用 動特性・静特性…

LED検査分類テスタ OLC-300W

半導体テスタ V2048

半導体テストシステム TS-900

ウエハプローバ DWP-3000

半導体デバイス不良検出・解析…

非接触(渦電流法)シート抵抗/…

モニター・バーンイン装置 BI-1…

LED検査分類テスタ OLC-7

アナログIC/ミクスドシグナルI…

チップ・モールド膜厚検査シス…

半導体カーブトレーサ CS-12800…

チャージアップモニタウエハ

シールド機構付き300mmオートプ…

デジタルIC計測システム EVA100…

配線品質解析システムオプション

パワーデバイス用オートプロー…

LEMSYS社 フルオートテストライ…

6インチ マニュアル・プローバ…

300mm フルオートオプション付…





























