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IGBT&MOSFET用 動特性・静特性テストシステム TRdsシリーズ

ナプソン(株)

最終更新日:2015/01/20

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  • IGBT&MOSFET用 動特性・静特性テストシステム TRdsシリーズ
DBC基板から大型のパワーモジュールサイズまで対応
【TRdsシリーズ】は、シングルチップ・パワーモジュール・IPMのサンプルタイプに対応できるよう設計されているテストシステム。オプションにてハンドラー仕様も対応可能。 動特性、静特性、アバランシェ測定、回路評価を同じテストヘッドで、再接続の必要なしに実施することが可能で、動特性・静特性テストシステムだけでなく、動特性テストのみ、静特性テストのみのシステムにも対応している。 オペレーターの安全に配慮し、常に最新の安全規格に則ったシステムを提供している。 印可測定電流:5(オプション)~6,000A、印可測定電圧:50~10,000V。

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社名:
ナプソン(株)
住所:
〒 136-0071
江東区亀戸2-3-6 百瀬亀戸ビル
Web:
http://www.napson.co.jp/