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LEMSYS社フルオートテストラインシステム

ナプソン(株)

最終更新日:2015/01/20

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速度測定で量産ラインにおける生産力向上に寄与

本製品は､半導体品質テストと製品選別テストの両方を、年間生産量の目標である100万個をはるかに超える、1時間あたり300個の速度で測定が可能。マニュアルで品質テストチェックを行っている生産工場と比較した場合、フルタイム労働の2人のオペレータによって行われる生産性は、年間20万個を超えることは無いと考えられるため、効率性の高さがわかる。Si・SiC・GaNなどの次世代パワーデバイス測定もサポート。

試験・検査装置│半導体検査装置│

　　　　　　　　

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