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薄膜飽和磁歪測定装置

ネオアーク(株)

最終更新日:2016/08/04

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  • 薄膜飽和磁歪測定装置
高感度・高精度測定を実現
本装置は、磁気ヘッドや地磁気センサなど軟磁性薄膜材料を応用した磁気デバイスで問題となる磁歪量の高感度計測が可能。飽和磁歪の測定には測定材料に飽和磁場以上の磁場印加が必要であるが、従来の飽和磁歪測定装置では磁歪による変位量の振幅のみで判断していたため、誤った測定を行う可能性があった。本装置では、オプションの縦Kerr効果を用いた磁気特性による磁場印加状態の確認を実現し、正確な測定が行える。また、変位測定には光てこ法を用いており、光干渉計を用いた変位信号校正機能の搭載により高精度を実現。(開発中)

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社名:
ネオアーク(株)
住所:
〒 192-0015
八王子市中野町2062-21
Web:
http://www.neoark.co.jp/