半導体テストシステム TS-900
最終更新日:2014/02/01
このページを印刷デバイスの設計検証から自動故障解析まで幅広く適応
【TS-900】は、Geotest社製のPXI半導体テストシステムで、ATEシステムに匹敵するシステム機能と能力を提供可能な統合テスト・プラットフォーム。デジタル波形編集/表示用のDIOEasy、およびATEasyソフトウェアによる統合テスト環境とテストエグゼクティブはユーザのテストアプリケーションの維持と迅速な開発を可能にする。また、統合されたモジュラー・テスト・インタフェースとPXIが高い柔軟性とハイパフォーマンスを実現し、ベンチトップ、カート、マニピュレーターなど豊富な搭載オプションを用意。デバイスおよびモジュールの設計検証、パイロット製造および集束生産試験、自動故障解析およびテストなどのアプリケーションなどで幅広く使用されている。
一緒に閲覧されている製品
その他製品一覧
LED検査分類テスタ OLC-7
ウエハプローバ DWP-3000
チップ・モールド膜厚検査シス…
LED検査分類テスタ OLC-110V/2…
シールド機構付き300mmオートプ…
半導体デバイス不良検出・解析…
LED検査分類テスタ OLC-300W
8インチ ハイパワー用オートプ…
バイオ・チップインターフェー…
高精度・高信頼性 シールド機構…
配線品質解析システムオプション
LEMSYS社 フルオートテストライ…
非接触(渦電流法)シート抵抗/…
6インチ マニュアル・プローバ…
μTAS測定用ソケットユニット RY…
アナログIC/ミクスド・シグナ…
300mm フルオートオプション付…
ギガ・コンタクトユニット
アナログIC/ミクスドシグナルI…
チャージアップモニタウエハ