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半導体テストシステム TS-900
最終更新日:2014/02/01
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デバイスの設計検証から自動故障解析まで幅広く適応
【TS-900】は、Geotest社製のPXI半導体テストシステムで、ATEシステムに匹敵するシステム機能と能力を提供可能な統合テスト・プラットフォーム。デジタル波形編集／表示用のDIOEasy、およびATEasyソフトウェアによる統合テスト環境とテストエグゼクティブはユーザのテストアプリケーションの維持と迅速な開発を可能にする。また、統合されたモジュラー・テスト・インタフェースとPXIが高い柔軟性とハイパフォーマンスを実現し、ベンチトップ、カート、マニピュレーターなど豊富な搭載オプションを用意。デバイスおよびモジュールの設計検証、パイロット製造および集束生産試験、自動故障解析およびテストなどのアプリケーションなどで幅広く使用されている。
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