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ギガ・コンタクトユニット

最終更新日:2014/01/30

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高速・高周波デバイスの検査に対応

【ギガ・コンタクトユニット】は、高速・高周波デバイスの検査に対応したテストコンタクトユニット。独自のマイクロ波技術と精密加工技術を融合して実現した製品で、ソケットが搭載される変換基板からテスタに接続するコネクタまでトータルに性能を保証。ピン間ピッチ：0.5〜1.27mm、ピン数：最大300、RF端子周波数帯域：DC〜3GHz。

試験・検査装置│半導体検査装置│

　　　　　　　　

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