部分放電試験セット TTS
最終更新日:2024/12/10
このページを印刷半導体(オプトカプラ、デジタルアイソレータ)の高電圧(HI-Pot)および部分放電試験用に設計
【TTS】は、VDE 0884、IEC 60747-5-5、UL1 577に準拠したルーチン試験における半導体(オプトカプラ、デジタルアイソレータ)の高電圧(HI-Pot)および部分放電試験用に特別に開発された部分放電試験システム。19インチ ハウジングに組み込まれた制御・測定ユニットで構成。高電圧発生部は高電圧モジュール内に設置。さまざまなハンドラーまたは手動測定ステーションに取り付けることができる。ピーク電圧18.3kVまでの試験電圧に対応(要望に応じて、より高い電圧にも対応可)。部分放電、試験電圧(UrmsとUpeak)、試験体電流、試験体容量を高精度で測定する。本システムは、開発用だけでなく、ハンドラーを使用した生産での100%試験用としても利用可能。手動組立用の手動測定ステーションは、開発またはプロトタイプのテストに利用できる。最大4台のハンドラーを制御コンピュータに接続可能。さらに社内の制御・記録ソフトウェア「MSPS 20」と接続することで、最大限の柔軟性を実現。「MSPS 20」は非常に柔軟で、セルフテスト、レポート機能、STDFファイルの書き込みが可能。
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