その他の情報
- ■PERMASCOPEモジュール：磁性および非磁性金属上の絶縁皮膜
■(鉄またはアルミニウム上の塗膜など)
■PERMASCOPEモジュール：磁性金属上の非磁性皮膜
■(鉄上の亜鉛、銅、クロム皮膜など)
■PHASCOPE DUPLEXモジュール：鉄およびアルミニウム上の塗膜
■PHASCOPE DUPLEXモジュール：鉄上の塗膜／亜鉛層の2層同時測定
■SIGMASCOPE PHASCOPE1モジュール、SR-SCOPEモジュール：PC基板上の銅膜厚の測定
■NICKELSCOPEモジュール：非鉄金属または絶縁基板上の電解Niメッキ
製品カタログ・資料
- 膜厚・導電率測定の自動測定システム FISCHERSCOPE MMS Automation
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：1.92MB【FISCHERSCOPE MMS Automation】は、膜厚測定および導電率測定のインライン測定システム。測定器本体に最大4つの同じタイプのプローブを接続して、同時に測定することが可能。さまざまな膜厚測定方式のモジュールおよび導電率測定のモジュールを最大4つ搭載できる。最大30m長ケーブルまで対応。測定器本体を制御盤のDINレールに取り付け可能。
関連製品カタログ・資料
会社情報
Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
(株)フィッシャー・インストルメンツ
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております
〒 340-0012 草加市神明1-9-16
https://www.helmutfischer.jp/詳細はこちら
製品ご紹介
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