アナログICテスタ AITS-200
最終更新日:2016/01/19
このページを印刷セミカスタム仕様で多様化するニーズに対応
【AITS-200】は、DCテスト、ACテストのいずれにも適用可能なパーピン方式のICテスター。独自のシステム構成でマトリクステスター並みの価格を実現。豊富なデバッグ機能、セルフキャリブレーション機能に加え、計測カードの自由な組み合わせにより、ユーザーの要望に合ったシステム構成を提供。DCテスト(4ch-128ch)はウェハ検査に、DC・ACテスト(1パス)はファイナル検査に最適。対象デバイスは、オーディオパワーIC、電源コントロールIC、オペアンプIC、コンパレータICのほか、多ピン・アナログIC。