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半導体検査顕微鏡 ライカ DM8000 M

ライカマイクロシステムズ(株)

最終更新日:2014/05/23

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  • 半導体検査顕微鏡 ライカ DM8000 M
最新の光学技術で、生産性改善に貢献
【ライカ DM8000 M】は、新しいアイデアにより装備されたUV斜め観察法およびマクロ観察法により、より高い解像力の実現と、試料の観察および検査のスピードアップを可能にした半導体検査顕微鏡。マクロモードを組み込んだことにより標準的な対物レンズの最大4倍の視野を実現。またi-line UV照明に斜め照射機能を組み合わせた斜め観察法は、試料に対して一定のをあらゆる角度から照明を行うことで3D超解像度画像を実現し、迅速・容易で効率的な観察を可能にしている。さらに本体に内蔵されたLED照明は、顕微鏡回りに理想的なエアーフローを可能にするだけでなく、省スペース・省電力などエコにも大いに貢献する。そのほか作業者の体格に合わせた角度調節可能なエルゴ鏡筒および位置調整可能なフォーカスノブを備えており、あらゆるユーザーにカスタマイズできる。
    　　　　　　　　

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