SoCテスト・システム V93000 EXA Scale
最終更新日:2020/10/13
このページを印刷多数個同時測定を実現
【V93000 EXA Scale】は、半導体テスト・システム用として特別に設計された特許取得済みの通信ネットワーク「Xtreme Link」テクノロジーを採用したSoCテスト・システム。膨大なスキャンデータの取り込みと読み出し、高出力電源、短時間での歩留まり改善、多数個同時測定といった課題を解決する。カードは、独自に開発した1チップあたり8コアの最新テストプロセッサで構成されており、テストの高速化・簡素化に貢献。新デジタル・カード「Pin Scale 5000」と電源カード「XPS256」のチャンネル数は従来製品比2倍の256チャンネルで、多数個同時測定を実現。
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