SoCテスト・システム V93000 EXA Scale
最終更新日:2020/10/13
このページを印刷
多数個同時測定を実現
【V93000 EXA Scale】は、半導体テスト・システム用として特別に設計された特許取得済みの通信ネットワーク「Xtreme Link」テクノロジーを採用したSoCテスト・システム。膨大なスキャンデータの取り込みと読み出し、高出力電源、短時間での歩留まり改善、多数個同時測定といった課題を解決する。カードは、独自に開発した1チップあたり8コアの最新テストプロセッサで構成されており、テストの高速化・簡素化に貢献。新デジタル・カード「Pin Scale 5000」と電源カード「XPS256」のチャンネル数は従来製品比2倍の256チャンネルで、多数個同時測定を実現。
一緒に閲覧されている製品
SoCテスト・システム V93000 EXA Scaleのお問い合わせ
その他製品一覧
半導体カーブトレーサ CS-12800…
配線品質解析システムオプション
アナログIC／ミクスドシグナルI…
ウエハプローバ DWP-3000
IGBT＆MOSFET用 動特性・静特性…
LED検査分類テスタ OLC-110V／2…
パワーデバイス用オートプロー…
8インチ ハイパワー用オートプ…
バイオ・チップインターフェー…
高精度・高信頼性 シールド機構…
チップ・モールド膜厚検査シス…
微小電流測定用セミオートプロ…
モニター・バーンイン装置 BI-1…
LED検査分類テスタ OLC-300W
デジタルIC計測システム EVA100…
チャージアップモニタウエハ
ギガ・コンタクトユニット
非接触(渦電流法)シート抵抗／…
薄膜飽和磁歪測定装置
300mm フルオートオプション付…
