SoCテスト・システム V93000 EXA Scale
最終更新日:2020/10/13
このページを印刷
多数個同時測定を実現
【V93000 EXA Scale】は、半導体テスト・システム用として特別に設計された特許取得済みの通信ネットワーク「Xtreme Link」テクノロジーを採用したSoCテスト・システム。膨大なスキャンデータの取り込みと読み出し、高出力電源、短時間での歩留まり改善、多数個同時測定といった課題を解決する。カードは、独自に開発した1チップあたり8コアの最新テストプロセッサで構成されており、テストの高速化・簡素化に貢献。新デジタル・カード「Pin Scale 5000」と電源カード「XPS256」のチャンネル数は従来製品比2倍の256チャンネルで、多数個同時測定を実現。
一緒に閲覧されている製品
SoCテスト・システム V93000 EXA Scaleのお問い合わせ
その他製品一覧
配線品質解析システムオプション
LED検査分類テスタ OLC-7
8インチ ハイパワー用オートプ…
チップ・モールド膜厚検査シス…
LED検査分類テスタ OLC-300W
300mm フルオートオプション付…
ギガ・コンタクトユニット
半導体カーブトレーサ CS-12800…
半導体デバイス不良検出・解析…
高精度・高信頼性 シールド機構…
ウエハプローバ DWP-3000
パワーデバイス用オートプロー…
デジタルIC計測システム EVA100…
4探針法 全自動測定ソーター WS…
バイオ・チップインターフェー…
μTAS測定用ソケットユニット RY…
LEMSYS社 フルオートテストライ…
LED検査分類テスタ OLC-110V／2…
IGBT＆MOSFET用 動特性・静特性…
半導体テストシステム TS-900
