SoCテスト・システム V93000 EXA Scale
最終更新日:2020/10/13
このページを印刷多数個同時測定を実現
【V93000 EXA Scale】は、半導体テスト・システム用として特別に設計された特許取得済みの通信ネットワーク「Xtreme Link」テクノロジーを採用したSoCテスト・システム。膨大なスキャンデータの取り込みと読み出し、高出力電源、短時間での歩留まり改善、多数個同時測定といった課題を解決する。カードは、独自に開発した1チップあたり8コアの最新テストプロセッサで構成されており、テストの高速化・簡素化に貢献。新デジタル・カード「Pin Scale 5000」と電源カード「XPS256」のチャンネル数は従来製品比2倍の256チャンネルで、多数個同時測定を実現。
一緒に閲覧されている製品
その他製品一覧
8インチ ハイパワー用オートプ…
ギガ・コンタクトユニット
半導体テストシステム TS-900
半導体デバイス不良検出・解析…
LED検査分類テスタ OLC-300W
チャージアップモニタウエハ
LED検査分類テスタ OLC-7
非接触(渦電流法)シート抵抗/…
6インチ マニュアル・プローバ…
高精度・高信頼性 シールド機構…
IGBT&MOSFET用 動特性・静特性…
4探針法 全自動測定ソーター WS…
パワーデバイス用オートプロー…
300mm フルオートオプション付…
バイオ・チップインターフェー…
アナログIC/ミクスドシグナルI…
モニター・バーンイン装置 BI-1…
半導体テスタ V2048
顕微式自動膜厚測定システム F54
LED検査分類テスタ OLC-110V/2…