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- 平面毎葉検査装置 PIE-650M
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：1.76MB【PIE-650M】は、金属箔、鋼板、紙、不織布などやガラス、積層板、樹脂、食品、液晶パネルなどの欠陥検出に対応する毎葉タイプの検査装置。高速かつ、高精細な欠陥検出で高い生産効率を実現。検査対象物の大きさ重さにとらわれないハンドリングが可能。検査ニーズに応じたシステム構成で、小規模システムから大規模システムまで柔軟に対応し、製造ラインに合わせた検査装置を提案。
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