製品ナビは、工業製品からエレクトロニクス、IT製品まで、探している製品が見つかります
すべてのカテゴリー
  1. トップ
  2. 企業情報
  3. テレダイン・ジャパン株式会社レクロイ
  4. 製品
  5. GaN／SiC半導体解析向け測定システム

GaN／SiC半導体解析向け測定システム

テレダイン・ジャパン株式会社レクロイ

最終更新日:2022/05/17

このページを印刷
  • GaN／SiC半導体解析向け測定システム
立ち上がり時間：435ps、1.5％のシステム精度を実現
本システムは、高分解能12ビット・オシロスコープ、1GHz高電圧光アイソレーション・プローブ「DL-ISO」、パワーデバイス・テスト・ソフトウェアで構成された測定システム。GaNやSiCなどのワイドバンドギャップ半導の電気特性を1.5％という高精度で評価。「DL-ISO」は、帯域幅：350MHz／500MHz／1GHzのラインアップを展開。高い信号忠実度、最小のオーバーシュート、高精度を有し、1GHzの帯域幅は、GaNデバイスの1nsの立ち上がり時間を測定するための要件を満たしている。また、高分解能オシロスコープは、12ビット分解能で最大20GS／sのサンプリング速度を実現。
    　　　　　　　　

一緒に閲覧されている製品

GaN／SiC半導体解析向け測定システムのお問い合わせ

お問い合わせはこちら

その他製品一覧

企業ロゴ

企業基本情報

社名：
テレダイン・ジャパン株式会社レクロイ
住所：
〒 183-0006
府中市緑町3-11-5　芳文社府中ビル3F
Web：
https://teledynelecroy.com/japan/