半導体デバイス不良検出・解析・改善システム eQuick

最終更新日:2014/02/01

テストコスト削減、工数削減をサポート

【eQuick】は、半導体デバイスの不良検出・解析・改善を目的としたシステム。ユーザーの動作に近い環境を再現し、故障検出率を向上させ、エンドユーザーへの結果報告を速やかに行うことができる。また、不良解析アプリ（同社オリジナル）搭載のPCを接続し、不良解析を容易にするほか、IDDQ測定により不良個所の特定ができ、動作波形の比較により、不良個所を絞ることが可能。よって、メモリ内蔵のマイコン設計、システム設計、システムボード設計などの開発・評価に携わる技術者に最適。