ニュースリリース一覧
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2009/08/20「ものづくりのみえる化」を行う波形解析の事例紹介プレゼンテーションの…
データスピリットでは8月26日に三重県産業支援センターの高度部材イノベーションセンターにて波形解析についてのプレゼンテーションを行います。当社の波形解析判定装置は、繰り返し動作ごとに波形を切り出して測定…>>詳細を見る -
2009/07/06高速光通信研究用途向けの小型で低価格な波長・帯域幅可変光フィルタを販…
サンテックは光通信に用いられる光コンポーネント、サブシステム、光測定機器を開発、製造して参りました。このたび、光の透過波長と透過帯域幅を独立に変えることのできる手動型可変光フィルタ(型名：OTF-350)を開…>>詳細を見る -
2009/07/06すべての光通信波長範囲を1台で対応可能にした偏光消光比モニタPEM-330を…
サンテックは光通信に用いられる光コンポーネント、サブシステム、光測定機器を開発、製造して参りました。このたび、レーザーダイオードや光導波路といった光素子に偏波面保存ファイバ(以下PMF)を接続する際の偏光…>>詳細を見る -
2009/06/23スニファ法専用機 ヘリウムリークディテクタ
スニファ法専用機 ヘリウムリークディテクタ スニファ法によるリークテスト専用のヘリウムリークディテクタです。世界最高レベルの高感度と認識性の高いカラー液晶ディスプレイ、簡単なボタン操作で測定ができる…>>詳細を見る -
2009/06/04
大幅にチューンアップした検査装置を出展
昨年に引き続き今年も6月24〜26日に東京ビッグサイトにて開催される「第13回 機械要素技術展」に出展いたします。 今回は従来の製品を大幅にチューンアップしたものを多数展示いたします。 【極小径プローブ(SG-L…>>詳細を見る -
2009/05/26ＬＥＤパネル明るさ測定に最適。 ＬＥＤの明るさを数値化
発光している白色ＬＥＤを測定器にて計測します。 ?相対光度 ［ｃｄ］ ?相対輝度 ?相対色度［ｘｙ］ それぞれ数値で計測判定する画像処理特性測定器です。 ＝＝＝＝＝ 特 長 ＝＝＝＝＝ ・同じ性質のＬＥ…>>詳細を見る -
2009/05/07検査システムの省力化と品質向上を実現するcTESTシリーズ波形判定デジタイ…
パソコン周辺機器／産業用パソコン／ネットワーク機器の総合メーカーである株式会社コンテック ［東京証券取引所第二部 証券コード：6639］（本社 大阪市西淀川区姫里3-9-31 代表取締役社長 漆崎 栄二郎） は、最…>>詳細を見る -
2009/04/286倍ズーム搭載のPCマイクロスコープ新発売
PCマイクロスコープ SKM-Z200-A は、パソコン画面上で観察する顕微鏡装置です。光学6倍ズームを採用していますので、画面倍率ｘ60〜ｘ360まで連続して可変できます。（作動距離60ｍｍ一定） また、オプションのコン…>>詳細を見る -
2009/04/20検査計測システム向け cTESTコントローラ CX100n シリーズ
パソコン周辺機器／産業用パソコン／ネットワーク機器の総合メーカーである株式会社コンテック ［東京証券取引所第二部 証券コード：6639］（本社 大阪市西淀川区姫里3-9-31 代表取締役社長 漆崎 栄二郎） は、計…>>詳細を見る -
2009/04/02振動試験装置の販売開始
従来の国内外の動電型振動試験装置より低価格で高性能な動電型振動試験装置の販売及び保守サービスを開始しました。 電子基板や電子機器の小型永久磁石型振動試験装置から航空宇宙システム機器等の大型水冷式振動…>>詳細を見る -
2009/01/26
ウェハMEMSファンドリーサービス事業に参入【株式会社ウェル】
株式会社ウェル（所在地:東京都品川区東品川2-2-25、代表取締役:江田尚之）は、ウェハMEMS受託加工サービスを開始致しました。 ウェルでは、半導体製造技術を応用したMEMS（Micro Electro Mechanical System)加工…>>詳細を見る -
2009/01/22
半導体ウェハ-バンピング受託加工サービスに参入【株式会社ウェル】
半田バンプピッチ、25uｍを実現！ 株式会社ウェル（所在地:東京都品川区東品川2-2-25、代表取締役:江田尚之）は、半導体ウェハ-バンピング受託加工サービスを開始致しました。 現在の最先端LSIの機能を最大限に引…>>詳細を見る -
2008/10/09インパルス・ウィンディング・テスタ IWT-5000の発売を開始
5000Vまでのパルス電圧をインバータ、モータなどのコイルに与え、コイルの断線やショート、絶縁不良及びインダクタンスの変化などを試験できる、インパルス・ウィンディング・テスタ ｢IWT-5000」の発売を開始した…>>詳細を見る -
2008/10/08MEMSテストシステム STI3000の販売を開始
STI3000ウェハーテストヘッドモジュールと組み合わせることで、静電容量型ジャイロ、加速度センサ、圧力センサ、マイクロホン、リゾネータ等のダイナミックプロービング試験機能を提供します。このダイナミックプロ…>>詳細を見る -
2008/10/07MEMSテストシステム STI9000の販売を開始
STI9000は、コンパクトなデスクトップフレームに、ベースモジュール及び3種類のミックスシグナルテストモジュールを組み合わせることで、エンジニアリングレベルから量産試験までのMEMSセンサ評価、ASICコントロー…>>詳細を見る -
2008/06/23ベルトコンベア上の製品を自動的に外観検査 ！！
固定した位置で検査する外観検査装置や外観検査システムは山ほどありますが、本商品は、“ベルトコンベア上”を流れている製品を外観検査出来る装置（システム）です。お問い合わせは下記ボタンから。>>詳細を見る -
2008/06/16静電気発生器発売 IEC試験法マニュアル 静電気版をブレゼント
ESS-2000AXは人体や物体に帯電したエネルギーが、 電子機器へ放電した際の耐性を評価する静電気発生器です。 １．長時間試験を簡単にプログラムできる 多種類の試験パターンもシーケンスモードで簡単に連続試…>>詳細を見る -
2008/02/28DDR1, 2, 3 DIMMテスターを発売
有限会社シーピーアイは、2月27日DDRメモリーモジュールテスターで実績のある米CST社製SP3000 DIMMテスターの国内販売を開始しました。SP3000は240ピンDIMMソケットを装着した高性能DDR2メモリーモジュールテスター…>>詳細を見る -
2007/12/25鞭打ち損傷を抑えるPAM-CRASH 2G用ダミー
ESIグループは、PAM-CRASH/PAM-SAFE 2G用「BioRID-II（後突ダミー）バージョン2.0」を発表しました。最新BioRID-IIダミーの最初の産業用バージョンは、人体と同じように関節で連結された胸腰椎（24個の椎骨）を有し…>>詳細を見る -
2007/12/10
クリーデンス、高集積ミックスドシグナルデバイス向けにコスト効果の高い…
世界の半導体業界にATEソリューションを提供するリーディングカンパニー、クリーデンス システムズ コーポレーション（以下：「クリーデンス」）は、主なコンシューマアプリケーションに使用されている高集積システ…>>詳細を見る
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