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CarlZeiss製 SEM-AFMシステム

日本セミラボ株式会社

最終更新日:2020/07/03

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  • CarlZeiss製 SEM-AFMシステム
すべての一般的なAFMの動作モードをサポート
本製品は、2つのシステムがそれぞれ独立している場合と比較して、多数のメリットがある複合SEM-AFMシステム。表面とナノ構造を測定する新機能を搭載しており、SEMとAFMを組み合わせることで、AFMチップを正確に位置決めできる。AFMは、表面の形状や、電気・機械特性に関する正確な情報を提供。
    　　　　　　　　
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CarlZeiss製 SEM-AFMシステム
CarlZeiss製 SEM-AFMシステム

ファイル形式：pdf ファイルサイズ：0.57MB本製品は、2つのシステムがそれぞれ独立している場合と比較して、多数のメリットがある複合SEM-AFMシステム。表面とナノ構造を測定する新機能を搭載しており、SEMとAFMを組み合わせることで、AFMチップを正確に位置決めできる。AFMは、表面の形状や、電気・機械特性に関する正確な情報を提供。

会社情報

日本セミラボ株式会社

半導体測定装置、太陽電池評価装置の販売及び技術サービスを提供しています。

日本セミラボ株式会社
〒 222-0033  横浜市港北区新横浜2-15-10 YS新横浜ビル6F
電話 : 045-620-7960

https://www.semilab-j.jp/
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企業基本情報

社名：
日本セミラボ株式会社
住所：
〒 222-0033
横浜市港北区新横浜2-15-10 YS新横浜ビル6F
Web：
https://www.semilab-j.jp/
TEL：
045-620-7960

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