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薄膜評価装置ナノインデンター IND-1000

日本セミラボ株式会社

最終更新日:2020/07/03

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  • 薄膜評価装置ナノインデンター IND-1000
ワイドレンジ(最大荷重:10mN~5N)
【IND-1000】は、押し込み荷重と変位を測定し、薄膜、樹脂、金属などのさまざまな物質の 硬度や弾性率を測定すナノインデンター。AFMにナノインデンターのヘッドを搭載することで、圧痕を直接観察することも可能。 主な測定項目は、硬度、弾性率、降伏強度、粘弾性(貯蔵損失弾性率)、破壊靭性、耐摩耗性、耐傷性。

製品カタログ・資料

薄膜評価装置ナノインデンター IND-1000
薄膜評価装置ナノインデンター IND-1000

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:0.7MB【IND-1000】は、押し込み荷重と変位を測定し、薄膜、樹脂、金属などのさまざまな物質の 硬度や弾性率を測定すナノインデンター。AFMにナノインデンターのヘッドを搭載することで、圧痕を直接観察することも可能。 主な測定項目は、硬度、弾性率、降伏強度、粘弾性(貯蔵損失弾性率)、破壊靭性、耐摩耗性、耐傷性。

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〒 222-0033
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Web:
https://www.semilab-j.jp/
TEL:
045-620-7960