薄膜評価装置ナノインデンター IND-1000
最終更新日:2020/07/03
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- ■高精度顕微鏡による正確な自動位置調整
■高精度 自動XYZステージ
■操作しやすいGUI
■AFM(オプション)に搭載可能
■サブナノメーター分解能
■高品質ピエゾー拡張要素による発熱対策
■変位測定、負荷力のリアルタイムフィードバックコントロール
■トレーサブル校正
■定期校正作業不要
■容易な圧子切り替え
■長期にわたる実績と信頼のパフォーマンス
製品カタログ・資料
- 薄膜評価装置ナノインデンター IND-1000
ファイル形式:pdf ファイルサイズ:0.7MB【IND-1000】は、押し込み荷重と変位を測定し、薄膜、樹脂、金属などのさまざまな物質の 硬度や弾性率を測定すナノインデンター。AFMにナノインデンターのヘッドを搭載することで、圧痕を直接観察することも可能。 主な測定項目は、硬度、弾性率、降伏強度、粘弾性(貯蔵損失弾性率)、破壊靭性、耐摩耗性、耐傷性。
関連製品カタログ・資料
会社情報
半導体測定装置、太陽電池評価装置の販売及び技術サービスを提供しています。
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