半導体ハンドラー talos

製品カタログ・資料

ハンドラー talos

ファイル形式：pdf ファイルサイズ：5.02MB【システムの主な特長】 ●信頼性が高く使いやすいデバイスハンドリングシステム ●アクティブ・サーマル・コントロール・システム(ATC)による-60 °C～+175 °C(-76°F～+347°F)のデバイス試験温度 ●低温/高温試験用 → 3温度試験 ●ユーザーの操作なしに、異なる試験温度で複数の試験サイクルを実施可能 ●エスモ不死鳥カートとの組み合わせにより、市場で最も小さいテストセル設置面積を実現 ●キットレス・テストハンドラーまたはカスタマイズされたハンドリングシステム。 ●個々の要件と用途に応じたモジュラーシステム構成 ●簡単に移動でき、設置面積が小さい ●すべてのテスターに対応する標準ドッキングインターフェース ●イーサネット経由のリモートコントロール ●高いMTBF値、少ないメンテナンス労力 【主な特長】 ●高精度で信頼性の高い4+1軸ポータルピックアンドプレースロボットシステム ●トレイ/チューブ/テープの手動ローディング/アンローディングオプション ●フリーピン1方向 ●450Nの高い接触力 – ご要望により最大800Nの高い接触力も可能 ●マルチタッチ対応15.6インチワイドスクリーンHMI ●ピックアンドプレース位置ティーチング用カメラシステム内蔵 ●FIFOまたはBINソートモード、トレイ/チューブ割り当て自由 ●ソフトウェアサポートによるトレイ/チューブ/テープの再配置機能 ●RS232またはオプションのTCP/IPまたはGPIBテスターインターフェース