半導体産業向け 蛍光X線膜厚測定アプリケーションガイド
最終更新日:2025/03/05
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- 半導体産業向け 蛍光X線膜厚測定アプリケーションガイド
ファイル形式:pdf ファイルサイズ:3.32MBフィッシャー・インストルメンツは、高性能蛍光X線式(XRF)膜厚測定器やその他の先進的な測定方法により、半導体/各種電子部品のインラインおよびオフラインの非破壊・非接触検査向けに幅広いソリューションを提案。「Measuring Made Easy」をモットーに、ユーザーにとって適切な測定ツールを提供することでその課題解決に貢献。提案から生産プロセスへのスムーズな統合、さらにそれ以降も世界最高クラスの測定テクノロジー&サービスを提供。部品からソフトウェアにいたるまで、フィッシャーのすべての測定器はドイツの本社工場にて開発・生産されている。
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会社情報
Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
(株)フィッシャー・インストルメンツ
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております
〒 340-0012 草加市神明1-9-16
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